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半导体检测显微镜拥有以下四大特点
  • 发布日期:2018-10-25      浏览次数:773
    •   半导体检测显微镜适用于大物体表面上的特定范围内微小目标的观察研究和分析。本仪器配置配置大移动范围的机械式载物台、落射照明器 、长距平场消色差物镜、大视野目镜,图像清晰、衬度好,同时还配有内置偏光观察装置。本仪器可用于鉴别和分析各种金属、合金材料、非金属物质的组织结构,广泛应用于电子、化工和仪器仪表行业观察不透明的物质。如金属材料,太阳能板、多晶硅、单晶硅、封装测试、集成电路、电子芯片、电路板、大液晶板及其它非金属材料,对一些表面状况进行研究分析的工作等。本仪器系大专院校,精密工程学,科研机构,工厂等的理想仪器。
       
        半导体检测显微镜配有大移动范围的载物台、落射照明器、平场消色差物镜、大视野目镜,图像清晰、衬度好,同时配有偏光装置,是金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。适用于学校、科研、工厂等部门使用。
       
        半导体检测显微镜是将精锐的光学显微镜技术、先进的光电转换技术、的计算机成像技术地结合在一起而开发研制成功的一项高科技产品。既可人工观察金相图像,又可以在计算机上很方便地适时观察金相图像,并以随时捕捉下来,从而对金相图谱进行分析,评级等,还可以保存或打印出高像素金相照片。
       
        半导体检测显微镜大四特点:
      1、大型载物台搭载:可用于400*300mm液晶基板,300mm晶圆全面检查。
      2、采用高NA的透射光聚光镜,图象更锐利。
      3、多种观察方式,多种照明方式,多种附件以满足不同应用要求。
      4、透射和反射照明可同时使用,极大提高液晶基板观察效果。
       
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