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镜片反射率测定仪

产品时间:2017-07-09

简要描述:

USPM-RUⅢ是在原USPM-RU仪器上开发出的换代产品,是镜片反射率测定仪的新机型。薄镜片也不受背面反射光的影响,能实现高速、高精度的分光测定。

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产品介绍:

消除背面反射光
  采用特殊光学系,消除背面反射光。不必进行背面的防反射处理,可正确测定表面的反射率。

可测定微小领域的反射率

  用对物镜对焦于被测面的微小区域(φ60μm),可测定镜片曲面及镀膜层脱落。

测定时间短 
  使用Flat Field Grating(平面光栅)和线传感器的高速分光测定,可迅速实现再现性很高的测定。

XY色度图、L*a*b*测定可能
  以分光测定法为基准,从分光反射率情况可测定物体颜色。

Hard Coat(高强度镀膜)膜厚测定可能
  用干涉光分光法,可以不接触、不破坏地测定被测物的膜厚(单层膜)。

主要用途
        · 各种透镜(眼镜透镜、光读取头镜片等) 
        · 反射镜、棱镜以及其他镀膜部品等的分光反射率、膜厚测定(单层膜)

与原产品的主要区别 
        · 采用全新的USPM-RUⅢ专用框架及设计,提高了操作性能。 
        · 受台Z方向的移动范围从35mm(原产品)扩大到了85mm。 
        · 电源规格可对应AC100V以及AC220V。 (请您在下订单时注明电源规格。) 
        · 优化了软件的功能。(可显示10次测定的功能等) 
        · XY受台移动方向增加了比例尺。 
        · 更换卤灯时不需调整灯的位置。 
        · PC与Interface采用了USB式连接。
       

产品规格 

测定波长 380nm~780nm
测定方法 与参照试料的比较测定
被测物N.A. 0.12(使用10×对物镜时)
0.24(使用20×对物镜时)
※与对物镜的N.A不同
被测物W.D. 10.1mm(使用10×对物镜时)
3.1mm(使用20×对物镜时)
被测物的曲率半径 -1R~-∞、+1R~∞
被测物的测定范围 约φ60μm(使用10×对物镜时)
约φ30μm(使用20×对物镜时)
被测物再现性 ±0.1%以下(2σ)(380nm~410nm测定时)
±0.01%以下(2σ)(410nm~700nm测定时)
表示精度 1nm
测定时间 数秒~十数秒(因取样时间各异)
光源规格 卤灯 12V100W
装置重量 本体:约20kg(电脑、打印机除外)
光源用电源:约3kg、控制器:约8kg
装置尺寸 本体:300(W)×550(D)×570(H)mm
光源用电源:150(W)×250(D)×140(H)mm
控制器盒:220(W)×250(D)×140(H)mm
电源规格 光源用电源:100V (2.8A)/220V AC
控制器盒:100V(0.2A)/220V AC
使用环境 水平且无振动的场所
温度:23±5℃
湿度:60%以下、无结露
软件 ■测定参数设定

保存环境文档、可读取
■分光反射率测定

设定参考值(固定值、分散式、可选择文档数据)
取样时间设定
判定是否合格
波长方向刻度
■物体颜色测定

XY色度图、L*a*b*色度图
标准光源设定(A、B、C、D65)
视野设定(2°视野、10°视野)
■膜厚(单层膜)测定

镀膜材料折射率
*作为特别订货,可对应测定波长为440nm~840nm。  
· 本装置不保证为Traceability体系中的绝对精度。
· 如规格及外观发生变更恕不另行通知,敬请谅解。

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