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小型LD干涉仪

产品时间:2019-08-19

简要描述:

低价格的小型LD干涉仪。Z适合用于多种少量的小型镜片的生产现场上的快速品质检查。通过简单操作来进行检查。

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总评
zui适合用于品种多量少的小型镜片的生产现场上的快速品质检查。(KIF-10A-DW)
检查不同规格的镜片时不需要使用专用配套夹具,zui适合用于品种多数量少的镜片检查,只需将镜片放置其上,如同使用显微镜一样的简单操作,便可轻便迅速地对应品质检查。

主要用途:
· 评价镜片研磨面的面精度。
· 评价塑料成型件的面精度。
· 评价各种小型球面、平面部件的面精度。 

采用635nm 波长激光,顺利引入生产线。(在线)
因与目前在斐佐型干涉仪上所使用的632.8mm 激光波长极为相似,干涉条纹的条纹感应度也与其近似。可顺利应用到现有的检查加工工程中。(在线)

品种丰富、种类齐全的参照镜
参照镜采用1英寸的紧凑结构,其种类与KIF-202L系列相比较也毫不逊色。 

KIF-10A-DW规格

检查方式 斐佐型干涉方式
口径 Φ25.4mm(1英寸)
倍率 1倍
参照镜面精度 λ/15(球面以及平面)
光源 半导体激光(635nm)2级产品激光输出功率为0.8mw以下。
电源 一次电源AC100~240V 50/60Hz
本体供给电源 DC12V
被检物大小 R: 140mm~113mm*、直径~约110mm
本体外形尺寸 180(W)×230(D) ×440(H)mm
本体重量 约5.2kg
主要选件 3轴受台、2轴受台、小型液晶显示器(2.5型、5.6型)、参照镜、测长机组、减衰过滤器AF、孔径转换器Φ25-Φ6

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