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小型牛顿干涉仪

产品时间:2017-07-25

简要描述:

应用了KIF-10A,用于测量光圈数目的测定仪。通过光圈数目与元器的比较,可简单地短时间内进行测定。因采用非接触的测定方式,不用担心会破坏镜片面以及元器。是在制造现场的工序测定中不可缺少的新检测工具。

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可进行稳定的检测
紧凑型的台式机,可放置于小的空间。在上面放置被测镜片进行测定,无需花费时间装卸。带有防震构造,可简单地进行稳定的测试。

可根据被检物简单地改变测定姿势(KIF-10A-NW)
可通过只更改脚部安装部位的位置,来改变测定的姿势。所以可根据被测物的需求,当作上置式或下置式使用。

采用635nm 波长激光,顺利引入生产线。(在线)
因与目前在斐佐型干涉仪上所使用的632.8mm 激光波长极为相似,干涉条纹的条纹感应度也与其近似。可顺利应用到现有的检查加工工程中。(在线)

品种丰富、种类齐全的参照镜
参照镜采用1英寸的紧凑结构,其种类与KIF-202L系列相比较也毫不逊色。

主要用途
单体镜片的光圈数,面精度评价 

KIF-10A-NW/NTW规格: 

受台开口径   Φ42mm
被测物固定方法   镜片治具(因各镜片的形状各异) 
受台的镜片治具接合口径Φ63mm
本体外径尺寸 NW 290(W)×240(D)×600(H) (mm )
(含遮光板)
  NTW 750(W)×450(D)×1280(H)mm
(桌子高度调整范围zui大值)
本体重量 NW 约9.0Kg
(含干涉仪本体约2.0Kg)
  NTW  约37Kg
(含干涉仪本体约2.0Kg)
冲程 移动 ±1mm
  Z粗动 朝上:冲程156mm 
朝下:冲程130mm
(但因被测物的厚度,镜片治具形状各异)
  Z微动 ±1mm
选件   小型显示器(2.5型,5.6型)
参照镜
孔径转换器RF25-D6

镜片治具敬请客户自行配备

KIF-10A-NW/NTW 各参照镜的测量范围
KIF-10A-NW (上置式)/NTW 

参照镜 检查可能曲率半径 检查可能曲率半径 检查可能zui大口径 检查可能zui大口径
FNO zui终R R/D
0.6 8.2 0.67 6.7 169.0 10.0 41*2
0.7 11.8 0.78 10.5 165.0 13.5 41*2
1.0 20.0 1.07 18.0 157.0 16.8 41*2
1.5 31.5 1.53 30.0 145.0 19.6 41*2
2.0 44.4 2.04 43.0 132.0 21.1 41*2
3.0 69.5 3.05 68.0 106.0 22.3 34.7
6.0 147.1 6.09 146.0 - 24.0 -


KIF-10A-NW (下置式) 

参照镜 检查可能曲率半径 检查可能曲率半径 检查可能zui大口径 检查可能zui大口径
 FNO zui终R R/D
0.6 8.2 0.67 6.7 143.0 10.0 100*1
0.7 11.8 0.78 10.5 139.0 13.5 100*1
1.0 20.0 1.07 18.0 132.0 16.8 100*1
1.5 31.5 1.53 30.0 120.0 19.6 78.4
2.0 44.4 2.04 43.0 107.0 21.1 52.4
3.0 69.5 3.05 68.0 82.0 22.3 26.8
6.0 147.1 6.09 146.0 - 24.0 -

可测定的zui大曲率半径所表示的是在设定被检物的厚度为零的情况下的数值。
可测定的zui大曲率半径是在凹面侧并根据镜片结合夹具形状、干涉仪的设置方向(上置型/下置型)等的机械尺寸以及受台部形状而变化
可测量zui大口径中,带有*1记号的数值为受台上可放置的zui大口径,带有*2记号的数值为根据受台开口径确定的可测定zui大口径。
FNO 表示光学设计上近轴FNO,实效值用R/D表示。
可检查zui小口径以及zui小曲率半径根据被检物的形状而异。
相关符号:R:曲率半径、D:直径

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