供应中心您现在的位置: 首页 > 供应中心 > 透过波面测定干涉仪KIF-PU

透过波面测定干涉仪KIF-PU

产品时间:2019-11-21

简要描述:

透过波面测定干涉仪配备了标准的压电驱动受台的自动调整构造以及专用软件,降低了调整误差所导致的测定值的变动。在高NA的光读取头镜片的透过波面测定中发挥威力。

在线咨询

透过波面测定干涉仪主要用途: 
· DVD、Blu-Ray Disk等的对物透镜的透过波面测定 
· 光读取头光学部品的透过波面测定 
· 小型反射镜、棱镜等的光学部品的透过波面测定

透过波面测定干涉仪主要规格:  

测定波长 图片 2405nm , 658nm (激光等级 2 产品)
干涉方式 Twyman-Green( 泰曼 - 格林 )
测定光束径 Φ 6mm 测定可能径 Φ 2 ~ 6mm ( 包括调整用周边的径 )
偏光规格 圆·直线切换
反射球面 N.A 0.85
焦点
调整 有 ( spot monitor )
干涉条纹表示图像大小 630 X 470 (像素)
解析方式 条纹扫描方式
遥控 調整 标准装备 遥控调整范围 :± 50um ( 手动调整范围 :± 0.5mm )
倍率 1X , 3X ( 数码倍率切换 )
装置重量 本体 : 约 22kg( 除电脑 、 打印机 ) 遥控控制器 : 约 0.5kg
装置尺寸 本体 : 330(W) × 465(D) × 460(H)mm 遥控控制器 : 154(W) × 100(D) × 75(H)mm
电源规格 100 - 240V AC 100VA 50-60Hz
使用环境  
水平且无振动的地方 ( 地面振动 ± 0.8m/s2 以下) 温度: 23 ± 3 ℃ 湿度: 60 %以下、 无结露


无需选择操作员即可进行稳定的测定 
配备了标准的压电驱动受台的自动调整构造以及专用软件,降低了调整误差所导致的测定值的变动。在高NA的光读取头镜片的透过波面测定中发挥威力。 

可测定405nm带镜片·650nm帯镜片 
标准装载了405nm光源与658nm光源的两种波长,可通过简单的操作切换测定波长,可对任一方的光学部品进行评价。 

可进行直线/圆偏光切换 
测定具有在读取头光学部品中使用的偏光依存性的被检物时,需要进行直线/圆偏光切换。zui适合进行塑料以及晶体等具有复屈折特性的部品的透过波面测定。 

小型·高刚性 
小型且高刚性的本体具有防振功能且充分考虑到生产现场的使用环境,所以不占空间即可进行迅速的品质检查。 

可进行合否判定 
专用的软件,具有根据任意设定的规格值进行合否判定的机能,所以在生产线中可简单地进行合否的判定。 
联系方式
  • 电话

    86-010-51295688

  • 传真

    86-010-51295688

在线客服